X荧光镀层测厚仪

三. 仪器特点：
1． 仪器外观选用独特的流线型设计，时尚雅致。
2． 同时分析元素周期表中由硫(S)到铀（U）。
3． 可以分析最多5层镀层，一次可分析元素多达24种。
4． 无需复杂的样品预处理过程，无损测试。
5． 检出限可达到2ppm。
6． 分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm 。
7． 采用美国原装、国际先进的探测器，能量分辨率高。
8． 采用美国原装、国际先进的AMP，处理速度快，精度高，稳定可靠。
9． X光管采用正高压激发，激发与测试条件采用计算机软件数码控制与显示。
10． 采用彩色摄像头，准确观察拍摄样品。
11． 采用电动无极控制样品平台，可以进行X-Y-Z的移动，准确方便。
12． 采用双激光对焦系统，准确定位测量位置。
13． 高度传感器。
14． 保护传感器，有效保护探测器。
15． 精确度高，稳定性好，故障率低。
16． 辐射安全系统：隐蔽式设计、软件、硬件三重射线防护系统多层屏蔽保护，辐射安全性可靠。
17． WINDOWS XP 中文应用软件，独特先进的分析方法，完备强大的功能，操作简单，使用方便。
四.仪器的技术特性
1． X-Y-Z样品平台移动装置
Thick-900A型X荧光镀层测厚仪的X-Y-Z样品平台采用电动移动装置，具有可容纳各种形状的镀层样品及电镀液体样品的超大样品室。使用简单方便。
2. X射线管激发系统
激发系统采用独特的正置直角光学结构设计。高电压发生器：电压与电流采用软件自动数码控制及显示。最大功率50 W。电压0 -50 KV，电流0-1000uA。8小时稳定性≤0.05%。高效长寿命X光管：采用低功率?自然冷却?高寿命、国际先进水平的X光管，指标达到国际先进水平。最大功率50W，管压5-50KV ；管流电流0-1000uA。
3．高分辨率的探测器系统
进口原装电制冷探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比。##分辨率能达到149eV±5ev。
4．能谱仪电子学系统
原装进口前置放大器及放大器等信号处理器：适应高计数率，高抗干扰能力的一体化电子线路。模数转换器采用高精度的2048道。