梅特勒XS分析天平

梅特勒XS分析天平
产品特性
1. 采用高精度高分辨率后指示传感器，满足用户高精度的称量需求
2. 优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求
3. 完全可拆卸，清洗的玻璃防风罩设计，实现天平的快速清洁
4. 丰富的内置称量应用程序：基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、，密度测量、动态称量
5. GWPExcellenceTM一体化安全功能，确保天平始终正确工作
型号 XS105DU XS205DU XS64 XS104 XS204 XS205DR
最大称量值(g) 41/120 81/220 61 120 220 81/220
可读性(mg) 0.01/0.1 0.01/0.1 0.1 0.1 0.1 0.1/1
重复性(sd)(mg) 0.02/0.1 0.02/0.1 0.1 0.1 0.1 0.1/0.7
线性误差(mg) 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 0.5
典型稳定时间(s) 4/1.5 4/1.5 1.5 1.5 1.5 3.5/1.5
秤盘尺寸(mm) 78*73 78*73 78*73 78*73 78*73 78*73