梅特勒XP微量天平

梅特勒XP微量天平
XP26/XP56
1. 采用高精度高分辨率后置式传感器，满足用户高精度的称量需求
2. 天平校验功能（BalanceCheck），自动提示用户使用外置砝码校正/校准天平，确保称量结果始终准确
3. GWPExcellenceTM一体化安全功能，确保天平始终正确工作
4. 优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求
5. 完全可拆卸，清晰的内部和外部玻璃防风罩设计，实现天平的快速清洁
6. 丰富的内置称量应用程序：基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、差重称量

型号 XP26 XP26DR XP56 XP56DR
最大称量值(g) 22 5.1/22 52 11/52
可读性(mg) 0.001 0.002/0.01 0.001 0.002/0.01
重复性(sd)(mg) 0.0025 0.002/0.008 0.006 0.002/0.014
线性误差(mg) 0.006 0.01 0.02 0.03
典型稳定时间(s) 3.5 3.5/2.5 3.5 3.5/2.5
秤盘尺寸(mm) 40*40 40*40 40*40 40*40
DU=双量程；sd=标准偏差