梅特勒XP/XS微量天平

梅特勒XP/XS微量天平
XP2U/XP6
1.采用分离的称量单元和显示控制单元，避免电子元件散热对称量结果准确性的影响
2.天平校验功能（BalanceCheck），自动提示用户使用外置砝码校正/校准天平，确保称量结果始终准确
3.GWPExcellenceTM一体化安全功能，确保天平始终正确工作
4.优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求
5.丰富的内置称量应用程序：基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、差重称量
6. 标配CarePacSR，用于天平的日常测试，确保获得准确称量结果
XS3DU
1.采用分离的称量单元和显示控制单元，避免电子元件散热对称量结果准确性的影响
2.优化天平适应性的参数设置，满足不同称量环境要求
3.丰富的内置称量应用程序：基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、动态称量
4. GWPExcellenceTM一体化安全功能，确保天平始终正确工作
型号 XP2U XP6 XS3DU
最大称量值(g) 2.1 6.1 0.8/3.1
可读性(mg) 0.0001 0.001 0.001/0.01
重复性(sd)(mg) 0.00025 0.0008 0.0008/0.006
线性误差(mg) 0.0015 0.004 0.01
典型稳定时间(s) 10 7 6
秤盘尺寸(mm) φ16 φ27 φ27
DU=双量程；sd=标准偏差